固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的測(cè)量方法

固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的測(cè)量方法

  測(cè)量固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率常用的方法是直接法和比較法.

  直接法是測(cè)量加在試樣上的直流電壓和流過試樣的電流而求得試樣電阻。直接法主要有檢流計(jì)法和直流放DA法；比較法主要有檢流計(jì)法和電橋法。

直接法：

1、檢流計(jì)法

2、高阻計(jì)法

  高阻計(jì)法又稱直流放DA法，它是將通過試樣的微弱電流經(jīng)過放大后，推動(dòng)指示儀表，故可測(cè)量較高的絕緣電阻。

  通常在高阻計(jì)中，有數(shù)個(gè)數(shù)量級(jí)不同的標(biāo)準(zhǔn)電阻，以適應(yīng)測(cè)量不同數(shù)量級(jí)的試樣電阻的需要，被測(cè)電阻可直接讀出，高阻計(jì)法一般可測(cè)10¹⁷Ω以下的絕緣電阻。

比較法

1、檢流計(jì)法

2、電橋法

  惠斯登電橋法測(cè)量電阻的原理

惠斯登電橋測(cè)量電阻時(shí)，一般用于測(cè)量10¹²Ω以下的電阻，并且，無(wú)法觀察電化電流隨時(shí)間變化的情形。