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日期:2026-03-25瀏覽:51次
在電子材料與半導體產業中,絕緣電阻測試是評估材料絕緣性能、器件可靠性的重要環節。隨著功能材料(如陶瓷、高分子、壓電薄膜)與半導體器件向高溫、高阻、弱信號、寬溫域方向發展,傳統常溫測試已無法滿足研發與質控需求。
華測儀器高溫絕緣電阻測試儀,面向傳統絕緣材料(如云母、陶瓷、工程塑料)的高溫性能表征,應用范圍是高溫、真空/氣氛環境、高阻測量,服務于材料研發、質量檢測與老化評估。
華測儀器半導體高低溫絕緣電阻測試系統,面向半導體材料 / 器件(如晶圓、封裝材料、功率器件),應用范圍是寬溫域(含低溫)、弱信號分辨率、高一致性、自動化批量測試,適配半導體工藝研發與可靠性驗證。
溫度覆蓋:RT~800℃(上限可達 1650℃),滿足陶瓷、云母等高溫絕緣材料測試
環境兼容:支持真空、氣氛(惰性 / 氧化)、水冷環境,適配材料在嚴苛工況下的性能評估
加熱技術:近紅外鍍金聚焦加熱,升溫快、受熱均勻,無感應電流干擾;搭配水冷 / 氣冷,實現快速降溫
三電極法:減少表面漏電流,測量重復性與穩定性優異
控溫精度:±1℃,移相觸發技術溫度波動小
測量范圍:覆蓋1X10^3 ~10^16 Ω·cm,滿足高阻絕緣材料測試
溫控模式:支持勻速、階梯、循環、保溫等多種程序,適配材料熱穩定性與老化測試
操作交互:10 英寸觸摸屏,Huacepro 軟件支持中英文、斷電數據保存、自動報表(Excel/PDF)
安全防護:過壓、過流、超溫多重保護,三軸連接器三層屏障,兼顧抗干擾與高壓安全
專注傳統絕緣材料的高溫、不同環境下的絕緣性能測試,是材料研發與質量控制的主力設備
溫度范圍:-185℃~350℃,覆蓋半導體器件低溫到高溫全溫區測試
控溫精度:0.5℃,測量前等待模式,確保樣品受熱均勻、數據重復性好
分辨率:電流分辨率達1fA,可捕捉半導體材料 / 器件的微弱漏電流
抗干擾:直流加熱 + 濾波 + 三軸屏障,減少電網諧波與雜散電容干擾,弱信號測量穩定性強
數據處理:自動平均值功能,排除充電電流與接觸不穩帶來的偏差
面向半導體材料 / 器件的寬溫域、弱信號、自動化絕緣電阻測試,是半導體研發與可靠性驗證的測試系統
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