表面電荷衰減測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-06

產(chǎn)品簡介：

華測儀器表面電荷衰減測試系統(tǒng)

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

表面電荷衰減測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，是一款面向材料電學(xué)特性研究的多功能分析設(shè)備，是為評估介質(zhì)材料表面電荷動(dòng)態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設(shè)計(jì)，集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置。

技術(shù)參數(shù)

充電電源：±30 kV

加熱臺(tái)溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃

控溫精度：± 0.2 ℃

輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ

額定輸出電壓：0～+30kV

額定輸出電流：≤ 1 mA

電壓調(diào)整率：≤ 0.1%

溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃

測量范圍：0 ~ ±10 kV

穩(wěn)定性：時(shí)間漂移<100 ppm/小時(shí)（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃

應(yīng)用領(lǐng)域

絕緣材料研發(fā)

評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng)

半導(dǎo)體器件優(yōu)化

表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性

科研與教育

高校及實(shí)驗(yàn)室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實(shí)驗(yàn)

電力設(shè)備質(zhì)檢

檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測